多年來，工業相機主要專注于可見光成像技術。短波紅外相機，簡稱SWIR相機，可顯露隱藏的特征。但想要找到既具有成本效益，又能為工業應用量身定制的SWIR成像解決方案也并非易事。

今天為您介紹Basler SWIR相機解決方案，以及它所帶來的成像潛能。

什么是SWIR光譜?

光是一種電磁波，以其波長為特征, 光譜可分為多個光譜帶。可見光范圍是400nm至800nm，近紅外和短波紅外光范圍是從900nm到最高可達2500nm，并且人眼不可見。Basler新款ace 2 X visSWIR相機，搭載Sony SenSWIR感光芯片，可覆蓋400nm至1700nm的可見光和不可見光范圍。

適用于機器視覺的SWIR相機，利用SWIR的物理特性，可以實現新的成像場景。通過列舉幾個經典的機器視覺應用案例，我們一起來了解SWIR相機的亮點。

1.在SWIR范圍內，硅會變得透明，因此，檢測半導體晶圓和太陽能電池板是其重要的應用領域。使用SWIR光源照亮硅基晶圓或太陽能電池板，可顯露隱藏在表面下的微小缺陷和雜質。

2.通常，SWIR可以穿透在可見光波長下不透明的涂層，這樣就能對底層特征可視化，例如查看液位水平，可區分顏色相似的不同材料。因此，非常適合對材料進行無損識別和分揀。

3.在SWIR范圍內，水具有很高的吸收性，這使得含水量高的物體或特征看起來幾乎為黑色，因此將此項方案應用于水分檢測，可以助力食品質量的控制。

以上是一些經典的例子，這項技術為工業應用帶來了無限的可能性。

為什么要選擇Basler SWIR視覺解決方案?

Basler積累了獨特的視覺專業知識，使Sony感光芯片技術大放異彩，為經濟高效的SWIR成像解決方案提供了完美的切入點。

Basler還可以一站式提供所有組件，與傳統的SWIR相機相比，ace 2 X相機要小巧得多，截面尺寸僅為29 x 29 mm，備受市場認可。

同時，這款相機提供GigE和USB 3.0接口，以滿足不同的應用要求，ace 2 X相機與Basler SWIR光源和控制光源的Basler SLP控制器，是理想的套裝組合。

為了獲得出色的成像效果，應使用濾光片來屏蔽不需要的光譜部分，InGaAs芯片的主要局限性在于它不可避免地存在像素缺陷和高噪聲等級的問題，Basler相機內置獨特的Pixel Correction Beyond像素校正超越功能可增強SWIR圖像。Beyond像素校正超越功能可輕松檢測并最大限度地降低線性噪聲，還能動態減少圖像中的水平線。

通過Basler的解決方案，僅需非制冷型相機的價格，您就能獲得成像質量可媲美制冷型相機且尺寸精巧的ace 2 X相機。

最后，您可以借助簡單易用的pylon軟件，盡情探索以上的特點以及其他相機功能，并直接通過相機采集出色的SWIR圖像，獲取卓越成效。

（來源：Basler計算機視覺）