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雷尼紹新型SEM-拉曼聯(lián)用接口
inLux用于將高性能的拉曼光譜分析能力(包括結(jié)構(gòu)和化學(xué)分析)，增添到掃描電子顯微鏡 (SEM) 內(nèi)部。在SEM上連接inLux接口，便可實(shí)現(xiàn)同時、原位執(zhí)行SEM分析和拉曼光譜分析。
inLux接口應(yīng)用廣泛，通過拉曼與SEM關(guān)聯(lián)分析，可以獲得豐富詳實(shí)且互為補(bǔ)充的信息。無論您需要材料的高倍率圖像，還是更詳實(shí)的化學(xué)和結(jié)構(gòu)信息，將這些技術(shù)結(jié)合在一起可以滿足各種各樣的分析需求。
inLux采用絕對式光柵提供防撞保護(hù)，從而確保inLux的探頭不會與任何SEM附件發(fā)生碰撞。您無需移動樣品，只需移動探頭，能夠針對樣品上超過500 μm3的區(qū)域生成圖像。各行各業(yè)的研究人員都能夠通過inLux接口受益。
（文章來源： 雷尼紹Renishaw）
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